Вимірювальна техніка та метрологія. – 2012. – Випуск 73

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/16115

Міжвідомчий науково-технічний збірник

Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України, Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор Б. І. Стадник. - Львів : Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2012. – Випуск 73. – 153 с.

Browse

Filters

20122

Settings

Author: search.filters.author.Кривенчук, Юрій

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Вимірювання електричного опору мікророзмірних об’єктів
    (Видавництво Львівської політехніки, 2012) Кривенчук, Юрій; Микитин, Ігор; Сегеда, Олег
    Здійснено аналітичний огляд методів вимірювання електричного опору. На основі проведеного аналізу зроблено висновок про доцільність застосування методу безконтактного вимірювання електричного опору мікрооб’єктів. Проведен аналитический обзор методов измерения электрического сопротивления. На основе проведенного анализа сделан вывод о целесообразности применения метода бесконтактного измерения электрического сопротивления микрообъектов. In the article the review of the methods of measurement of electrical resistance. Based on the analysis concluded the feasibility of applying the method of contactless measurement of electrical resistance of micro.
  • Thumbnail Image
    Item
    Метод комбінаційного розсіювання світла в термометрії поверхні мікрооб’єктів
    (Видавництво Львівської політехніки, 2012) Сегеда, Олег; Яцишин, Святослав; Кривенчук, Юрій
    Здійснено аналіз вимірювання температури методом комбінаційного розсіювання світла та проведено оцінювання метрологічних характеристик методу. Об’єктом дослідження вибрано мікроконтролер. Осуществлен анализ измерения температуры методом комбинационного рассеяния света, проведено оценивание метрологических характеристик метода. Объектом исследования выбрано микроконтроллер. Errors of the temperature transducer constructed on the basis of the Raman effect are estimated applying the analysis for metrological characteristic divergence. The object of study was chosen microcontroller.