Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2002. – №458

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/42439

Вісник Національного університету «Львівська політехніка»

У Віснику опубліковано результати науково-дослідних робіт професорсько-викладацького складу, аспірантів та докторантів електрофізичного факультету Національного університету “Львівська політехніка”, науковців та викладачів із провідних вищих закладів освіти та академічних інститутів. У Віснику публікуються роботи провідних вчених Республіки Польща та Словаччини. Тематика робіт пов’язана з питаннями теорії фізики напівпровідників та напівпровідникових приладів, теоретичними і практичними проблемами мікроелектроніки та сенсорної техніки. Для викладачів, наукових співробітників, аспірантів, інженерів, студентів.

Вісник Національного університету "Львівська політехніка" : [збірник наукових праць] / Міністерство освіти і науки України, Національний університет "Львівська політехніка. – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2002. – № 458 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки / відповідальний редактор Я. С. Буджак. – 291 с. : іл.

Browse

Filters

20022

Settings

Has files: YesSubject: search.filters.subject.Reliability

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Reliability improvement in consequence of investigation PCB silver electrochemical migrations
    (Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2002) Jordanov, Nikola Stefanov; Andonova, Anna Stoynova; Atanasova, Natasha Georgieva; Technical University of Sofia, Dept. of Microelectronics
    Looking for a compromise between high functionality and convenient and effective materials the silver has got many proved and achievements qualities for PCB. The main problem in using as a constructive materials its high disposition of migration. The investigation of a concrete type of migration between silver conductors is the goal of the paper. For this purpose an investigation techniques is presented to qualifying PCB structures. Some test structures are designed and produced and experimental results are results are analyzed.
  • Thumbnail Image
    Item
    Survey of quality and reliability problems in design of MEMS
    (Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2002) Andonova, Anna Stoynova; Atanasova, Natasha Georgieva; Technical University – Sofia, Bulgaria
    The interdisciplinary nature of MicroElectroMechanical Systems (MEMS) utilizes design engineering and manufacturing expertise from a wide and diverse range of technical areas. In order to produce a high reliability and quality MEMS we must not only examine the device itself, but must also examine the entire process surrounding the devices, from conception to finish. This means that the process must be qualified, with the supplier fully investigated, the design verified, and the packaging certified. The paper presents a survey of the various aspects of MEMS, with emphasis on its reliability and quality features in the design phase.