Jabłonński, Paweł2013-12-242013-12-242011Jabłonński P. Approximate BEM analysis of thin electromagnetic shield of variable thickness / Paweł Jabłonński // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 7. – Bibliography: 3 titles.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/22442The paper concerns an approximate analysis of electromagnetic shield of variable thickness. The method bases on the boundary element method (BEM), but to avoid nearly singular integrals the analysis uses a semi-analytical solution for the shield. Not only it makes the numerical errors smaller, but also reduces the memory used and computation time. Praca dotyczy przybliżonej analizy ekranu elektromagnetycznego o zmiennej grubości. Proponowana metoda wykorzystuje metodę elementów brzegowych (MEB), ale w celu uniknięcia calek prawie osobliwych w obszarze ekranu stosuje się rozwiązanie półanalityczne. Powoduje to nie tylko zmniejszenie błędów numerycznych, ale także redukuje zapotrzebowania na pamięć operacyjną i czas obliczeń.enboundary element metodelectromagnetic shieldingmetoda elementów brzegowychekranowanie elektromagnetyczneArticle