Мар’ямова, І. Й.Островський, І. П.Ховерко, Ю. М.Кутраков, О. П.Когут, І. Т.Лях-Кагуй, Н. С.2012-02-202012-02-202011Вплив електронного опромінення на ниткоподібні кристали кремнію і твердого розчину Si-Ge / І. Й. Мар’ямова, І. П. Островський, Ю. М. Ховерко, О. П. Кутраков, І. Т. Когут, Н. С. Лях-Кагуй // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2011. – № 708 : Електроніка. – С. 145–150. – Бібліографія: 7 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/11534Досліджено вплив електронного опромінення на низькотемпературну провідність і магнетоопір ниткоподібних кристалів (НК) кремнію і Si1-xGex (х=0,03) р-типу з концентрацією бору поблизу переходу метал-діелектрик (ПМД). Спостерігається кореляція між впливом електронного опромінення на опір і магнетоопір кристалів за кріогенних температур. Виконані вимірювання свідчать про радіаційну стійкість досліджених НК Si та Si1-xGex до дії опромінення високоенергетичними електронами з флюенсом Ф£1´1017ел/см2. Influence of electron irradiation on low temperature conductivity and magnetoresistance of р-type silicon and Si1-xGex (х=0,03) whiskers with boron concentration in the vicinity of metal-insulator transition (MIT) have been studied. Correlation between influence of electron irradiation on crystal resistance and magnetoresistance at cryogenic temperatures was observed. These studies show the stability of investigated Si and Si1-xGex whiskers to irradiation by high energy electrons with fluencies Ф£1´1017еl/cm2.uaелектронне опроміненнянизькотемпературна провідністьмагнетоопір ниткоподібних кристалів (НК) кремнію і Si1-xGex (х=0,03) р-типуelectron irradiationlow-temperature conductivitymagnetoresistance of Si whiskers and Si1-xGex p-typeArticle