Павлиш, В. А.Данчишин, І. В.Корж, Р. О.Вишняков, Д. В.2020-03-262020-03-262001-03-272001-03-27Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку / В. А. Павлиш, І. В. Данчишин, Р. О. Корж, Д. В. Вишняков // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації. — С. 33–39.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47903Запропоновано модель розрахунку виходу придатних кристалів інтегральних схем із врахуванням дво- та тривимірної дефектності мікроструктур електронних засобів.Integrated circuit dies yield model which takes into account the two- and threedimensional defectivity of electronic device microstructures has been proposed.33-39ukДефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахункуArticle© Національний університет “Львівська політехніка”, 2002© Павлиш В. А., Данчишин І. В., Корж Р. О., Вишняков Д. В., 20027621.396.6.019.3621.38.049.77Defektnist struktur elektronnykh zasobiv ta problema adekvatnosti yii rozrakhunku / V. A. Pavlysh, I. V. Danchyshyn, R. O. Korzh, D. V. Vyshniakov // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2002. — No 440 : Radioelektronika ta telekomunikatsii. — P. 33–39.