Дорош, Н. В.Кучмій, Г. Л.2019-08-212019-08-212002-03-262002-03-26Дорош Н. В. Підвищення чутливості мікроелектронних сенсорів тиску / Н. В. Дорош, Г. Л. Кучмій // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 454 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — С. 11–14.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/45263Наведено технологію лазеростимульованої дифузії бору в кремнії для одержання концентрації домішки порядку ІО20 см 3 при зниженні температури та часу дифузійного відпалу з метою підвищення чутливості мікроелектронних сенсорів тиску. Наведено методику визначення порогової потужності лазерного випромінювання для створення порушених областей кремнієвої пластини.The technology of laser-stimulated boron diffusion in silicon for obtaining dopant concentration in order of 1020 cm'3 at reduction of temperature and diffusing annealing time with purpose of sensitivity improvement in microelectronic pressure sensors is presented in the paper. The method of determination of laser threshold power for creation of defective region in silicon wafer is presented.11-14ukArticle© Національний університет “Львівська політехніка”, 2002© Дорош Н. В., Кучмій Г. Л., 20024621.315.592Dorosh N. V. Pidvyshchennia chutlyvosti mikroelektronnykh sensoriv tysku / N. V. Dorosh, H. L. Kuchmii // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2002. — No 454 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — P. 11–14.