Совин, Я. Р.Наконечний, Ю. М.Чінка, В. М.Тишик, І. Я.2013-07-032013-07-032012Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, В. М. Чінка, І. Я. Тишик // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2012. – № 745 : Комп’ютерні системи та мережі. – С. 168–175. – Бібліографія: 10 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/20203Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of hardware random number generator of microcontrollers STM32F4XX family with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators for cryptographic applications.uaгенератори випадкових чиселтести NIST STSSTM32F4xxrandom number generatorsNIST STS testsArticle