Спектральні характеристики багатошарових структур на основі трикомпонентних блоків - Яремчук, І. Я.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В. (Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2006)
Розраховано спектральні характеристики багатошарових діелектричних інтер- ференційних структур, створених багатократним повторенням симетричного трикомпонентного періоду і структури типу діелектрик – тонка плівка металу – діелектрик. Частотні залежності коефіцієнтів пропускання і відбивання цих структур розраховано за допомогою матричного методу. Показано, що кількість періодів у структурі визначає спектральне розміщення смуг пропускання і відбивання, а зміна товщини окремих шарів дає змогу керувати піками цих смуг для певних довжин хвиль. The calculation of spectral characteristics of multilayer dielectrics interference structures produced by multiple repeating of symmetric tree-component period and the types of dielectric – thin film metal – dielectric systems, was conducted. The frequency responses of transmission and reflection of these systems using matrix method were calculated. It is showed that number of periods of structure determines spectral position of transmission and reflection bands and modification of thickness of individual layers allows us to lead peaks of such bands at certain wavelength.
Spectral characteristics properties of multilayer structures on basis of tree-component stacks