Совин, Я. Р.Наконечний, Ю. М.Стахів, М. Ю.2014-02-102014-02-102013Совин Я. Р. Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, М. Ю. Стахів // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2013. – № 753 : Автоматика, вимірювання та керування. – C. 37–44. – Бібліографія: 10 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/23316Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтро- лерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS за різних значень тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of microcontroller’s hardware random number generator of family STM32F4XX with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS at the different values of clock rate. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators in cryptographic applications.uaгенератори випадкових чиселтести NIST STSSTM32F4xxrandom number generatorsNIST STS testsSTM32F4xxArticle