Походило, Є. В.2014-03-182014-03-182005Походило Є. В. Аналіз методичних похибок вимірювання параметрів імітансу / Є. В. Походило // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2005. – № 530 : Автоматика, вимірювання та керування. – С. 145–149. – Бібліографія: 6 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/23959Проаналізовано методичні похибки вимірювання параметрів імітансу низькоомних та високоомних об’єктів. Одержано вирази для оцінювання похибок від впливу неінформативного імітансу. The methodical measuring errors of parameters of an immittance of low-impedance and high-ohmic objects are parsed. The expressions for estimation of errors from influencing not informative immittance are obtained.uaArticle