Matviykiv, MyhayloPetrushka, Alina2011-02-102011-02-102010Matviykiv M. Modeling of internal mechanical tension’s influence on electric strength of M-D-M-structures under electric breakdown / Myhaylo Matviykiv, Alina Petrushka // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 348. – Bibliography: 3 titles.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/7373Deformation changes of electric strength of M-D-Mstructures under electric, ionization and electrochemical breakdown, caused by internal mechanical tensions, are modeling in the article. Determined mathematical models which take into account main mechanisms of internal mechanical tension’s influence on M-D-M-structure’s electric strength are representedeninternal mechanical tensionsdeformationfilmelectric strengthelectric breakdownArticle