Яцук, Ю. В.Янович, Р. Р.Яцук, В. О.2013-06-102013-06-102011Яцук Ю. В. Багатозначні міри опору для автоматизованого метрологічного контролю складних систем / Ю. В. Яцук, Р. Р. Янович, В. О. Яцук // Автоматика / Automatics – 2011 : матеріали XVIII Міжнародної конференції з автоматичного управління, 28–30 вересня 2011 року, Львів / Національна академія наук України [та інші]. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 228–229. – Бібліографія: 5 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/19495The many-valued resistance measure for automatic metrological checking complication system is described in this paper. That measure is built on resistance imitator of Ohm law basis. The high resolution, accuracy, distance transfer resistance possibilities is benefits of this resistance measure.uacode-control resistance measureresistance imitatorfour terminal connectionArticle