Yakovyna, V.Khil, O.2024-06-252024-06-252024-05-232024-05-23Yakovyna V. Challenges of Using Machine Learning Algorithms for Evaluating and Predicting Software Defects / V. Yakovyna, O. Khil // Сучасні проблеми в радіоелектроніці, телекомунікаціях(СПРТ’2024) : матеріали Міжнародної науково-технічної конференції, 23-24 May 2024. — Lviv Politechnic Publishing House, 2024. — P. 218–221. — (Information Systems and Technologies. Automated Control Systems. Robotics.).978-966-941-945-3https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/62261218-221enChallenges of Using Machine Learning Algorithms for Evaluating and Predicting Software DefectsArticle© Національний університет “Львівська політехніка”, 20244Yakovyna V. Challenges of Using Machine Learning Algorithms for Evaluating and Predicting Software Defects / V. Yakovyna, O. Khil // Suchasni problemy v radioelektronitsi, telekomunikatsiiakh(SPRT2024) : materialy Mizhnarodnoi naukovo-tekhnichnoi konferentsii, 23-24 May 2024. — Lviv Politechnic Publishing House, 2024. — P. 218–221. — (Information Systems and Technologies. Automated Control Systems. Robotics.).