Jóśko, AdamOlędzki, Jerzy2013-12-242013-12-242011Jóśko A. Jitter investigation in dual channel simultaneous sampling measurement methods / Adam Jóśko, Jerzy Olędzki // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 58. – Bibliography: 2 titles.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/22439Dual channel simultaneous sampling measurement methods of power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine the jitter in the validation procedure of a particular measurement method. The article concerns the Authors' research continuation, this time based on extended measurement setup for detailed jitter analysis, with two independent signal sources and A/D converter circuits. W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na wynlk pomiaru mocy, kąta fazowego, czy impedancji, może wywierać szum fazowy (jitter) przetwornika А/С. Oszacowanie wartości tego szumu jest zatem niezbędnym krokiem przy walidacji wybranej metody pomiarowej. W artykule przedstawiono wyniki kontynuowanych przez Autorów badań, w których tym razem, w celu przeprowadzenia szczegółowej analizy wykorzystano dwa niezależne żródła sygnałów i dwa układy przetworników А/С.endual channel analog-digital conversionjitterphase noisedwukanałowe przetwarzanie analogowo-cyfrowejitterszum fazowyArticle