Колодій, З. О.Недоступ, Л. А.Колодій, А. З.2010-02-192010-02-192009Колодій З. О. Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму / З. О. Колодій, Л. А. Недоступ, А. З. Колодій // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2009. – № 645 : Радіоелектроніка та телекомунікації. – С. 236-238. – Бібліографія: 6 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/2487Запропоновано методику оцінки дефектності структури елементів електроніки за мінімальним значенням спектральної густини потужності їх флікер-шуму і мінімальним значенням середнього квадрата напруги шумів в діапазоні низьких частот. The method of estimation of electronic elements reliability using their minimal value of flicker-noise power spectral density and minimal value of noises voltage average square in the range of low frequencies is proposed.uaспектральна густинафлікер-шумspectral densityflicker-noiseArticle