Bobalo, YuriyMandziy, Bohdan2011-02-142011-02-142010Bobalo Y. Content and modern trends of reliability aspect in radioelectronic designing / Yuriy Bobalo, Bohdan Mandziy // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 3–4. – Bibliography: 8 titles.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/7388The article deals with modern development trends and the content of the problems concerning reliability aspect of radioelectronic device designing at the different hierarchic designing levels.enreliabilityfault tolerancemodel of reliabilitydesigning objectdesigning levelArticle