Melnyk, S. I.Slipchenko, M. I.2010-10-042010-10-042010Melnyk S.I. Microwave scanning tomography local unit defects / S. I. Melnyk, M. I. Slipchenko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 71. – Bibliography: 2 titles.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/6212This article analyzes the possibility of creating a microwave scanning tomography on the basis of existing microwave microscopes. An algorithm for the reconstruction of the size, depth and electrical parameters of the local unit heterogeneity on the basis of scanning at two at two different distances between the sensor and object.enmicrowave scanning tomographyresolutionreconstructionlocal unit defectsArticle