Nedostup, LeonidBobalo, YuriyKiselychnyk, MyroslavLazko, Oxana2012-09-112012-09-112012Devices and systems design reliability estimation / Leonid Nedostup, Yuriy Bobalo, Myroslav Kiselychnyk, Oxana Lazko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 45–46. – Bibliography: 3 titles.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/14205The updated approach for devices and systems reliability estimation was proposed. An two-dimensional "Stress–strength" probability model based on application of Gram-Charlier and Edgeworth rows was obtained.endesign reliabilitystress-strength modelsGram-Charlier rowsArticle