Рак, ВолодимирБайцар, Роман2014-02-072014-02-072005Рак В. Оцінювання випадкових похибок вимірювальних генераторів напівпровідникових резонансних сенсорів / Володимир Рак, Роман Байцар // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор Б. І. Стадник. – Львів : Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2005. – Випуск 65. – C. 20–23. – Бібліографія: 7 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/23201Проаналізовано вплив шумів електронної схеми підсилення та випадкових коливань температури на вихідну частоту вимірювального генератора напівпровідникового резонансного сенсора. Визначені випадкові похибки частоти генератора при дії дестабілізуючих факторів. Проанализировано влияние шумов электронной схемы и случайных колебаний температуры на выходную частоту измерительного генератора полупроводникового резонансного сенсора. Определены случайные погрешности частоты генератора при действии дестабилизирующих факторов. Influence noises of electronic circuit of amplification and random variations of temperature on the output frequency of measuring generator for semiconductor resonance sensors are considered in this article. Random errors of frequency of generator by action destabilizing factors are defined.uaArticle