Курило, І. В.2018-09-252018-09-252002Курило І. В. Фізико-механічні дослідження матеріалів електроніки / І. В. Курило // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2002. – № 459 : Електроніка. – С. 124–135. – Бібліографія: 22 назви.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/42857Подано результати багаторічних досліджень фізико-механічних властивостей кристалів A B та A B. Методом одновісного стискування та мікроіндентування одержано низку параметрів пружності, пластичності, міцності та крихкості. Установлено механізми пластичної деформації. Досліджено вплив зовнішніх факторів на структуру та фізико-механічні властивості матеріалів. The results of long-term investigations of mechanical properties of crystals II-VI and III-V are given in this work. The method axial of compression and microidenta- tion receives a number of parameters of elasticity, plasticity, strength, and fragility. The mechanisms of plastic deformation are established. The influence of external influences on structure and mechanical properties of materials is investigated.ukФізико-механічні дослідження матеріалів електронікиPhysico-mechanical investigations of electronics materialsArticle© Курило І. В., 2002124–135539.3 + 546.4 + 548.2 + 537.3