Микитюк, З. М.Готра, О. З.Сушинський, О. Є.Скочиляс, М.Гураль, В. В.2020-03-122020-03-122005-03-012005-03-01Вимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалів / З. М. Микитюк, О. З. Готра, О. Є. Сушинський, М. Скочиляс, В. В. Гураль // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 542 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — С. 60–64.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47343Розглянуто можливості створення вимірювального комплексу для досліджень електрооптичних характеристик рідкокристалічних матеріалів. Запропоновано використання мікроконтролерів для оптимізації вимірювальних методик досліджень рідкокристалічних модуляторів лазерного випромінювання, що суттєво покращило точність вимірювання.The creation of measurement сomplex for investigating of liquid crystal materials elektrooptical characteristics was described in this paper. The microkontroles using for optimization of investigation measurement methods of liquid crystal modulators of laser radiation, which permit to increase of measurements accuracy60-64ukВимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалівArticle© Національний університет “Львівська політехніка”, 2005© Микитюк З. М., Готра О. З., Сушинський О. Є., Скочиляс М., Гураль В. В., 20055532.738Vymiriuvalnyi kompleks dlia doslidzhen elektrooptychnykh kharakterystyk ridkykh krystaliv / Z. M. Mykytiuk, O. Z. Hotra, O. Ye. Sushynskyi, M. Skochylias, V. V. Hural // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2005. — No 542 : Elementy teorii ta prylady tverdotiloi elektroniky. — P. 60–64.