Bulanyi, M. F.Kovalenko, O. V.Omelchuk, A. R.Polozov, K. Yu.Skuratovskaya, O. V.2012-09-262012-09-262012Physical properties of thin ZnO layers / M. F. Bulanyi, O. V. Kovalenko, A. R. Omelchuk, K. Yu. Polozov, O. V. Skuratovskaya // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 534. – Bibliography: 2 titles.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/14665It has been investigations the photoluminescence spectra, form of the surface and x-ray diffraction analyzing of ZnO epitaxial layers grown by VPE and MOCVD technology.enzinc oxidephotoluminescencex-ray diffraction analyzingmorphology of surfaceArticle