Bobalo, YuriyNedostup, LeonidKiselychnyk, MyroslavMelen, Myhaylo2013-12-242013-12-242011Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring / Yuriy Bobalo, Leonid Nedostup, Myroslav Kiselychnyk, Myhaylo Melen // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 53. – Bibliography: 3 titles.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/22444This work is devoted to modeling and optimization of radio-electronic devices production processes to ensure the desired reliability.enproduction of electronic devicesmodelingdefectivenessreliabilityArticle