Гумінілович, РусланаШаповал, ПавлоЯтчишин, ЙосипКусьнеж, Віктор2013-06-262013-06-262011Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії / Руслана Гумінілович, Павло Шаповал, Йосип Ятчишин, Віктор Кусьнеж // Хімія та хімічні технології : матеріали ІI Міжнародної конференції молодих вчених CCT-2011, 24–26 листопада 2011 року, Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 188–189. – (3-й Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Бібліографія: 3 назви.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/20118Розроблена проста й швидка методика визначення товщини напівпровідникових тонких плівок кадмій сульфіду з використанням методу інверсійної вольтамперометрії. Отримані результати мають добру сходимість з результатами еліпсометричних вимірювань, які є загальноприйнятими длятакого виду досліджень.uaтонкі плівкихімічне осадженняінверсійна вольтамперометріяArticle