Голяка, Р. Л.Єрашок, В. Е.Максимів, І. В.2012-02-092012-02-092000Голяка Р. Л. Дослідження та аналіз стабільності інтегрального низьковольтного джерела опорної напруги / Р. Л. Голяка, В. Е. Єрашок, І. В. Максимів // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2000. – № 397 : Електроніка. – С. 32–36. – Бібліографія: 3 назви.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/11431Розглянуто результати розробки інтегрального низьковольтного джерела опорної напруги на принципі формування напруги, яка числово дорівнює ширині забороненої зони кремнію. Проведено дослідження та аналіз стабільності дже- рела при зміні температури та напруги живлення. Results of development are discussed concerning the low-level reference voltage source based on the principle of forming a potential equivalent to the silicon bandgap width. Investigations are performed and analysis is carried out at changing temperature and supply voltage.uaДослідження та аналіз стабільності інтегрального низьковольтного джерела опорної напругиArticle