Аналіз модуляційного режиму в атомно-силовій мікроскопії на основі кантелівера механічного типу - Дупак, Б.; Іванців, Р.; Кособуцький, П. (Видавництво Львівської політехніки, 2013)
Розглянуто та проаналізовано модуляційний режим під час сканування поверхні атомно-силовим мікроскопом на основі кантелівера механічного типу. Розвинений метод розрахунку сил Ван-дер-Ваальса для конфігурування взаємодії тіл. This paper is considered and analyzes the modulation mode by scanning the surface of an atomic force microscope based cantilever mechanical type. The developed method for calculating the forces Van der Vals to configure the interaction of bodies.
Keywords: кантелівер; атомно-силовий мікроскоп; зонд; мікроскоп; cantilever; atomic force microscope; probe; microscope