Kosobutskyy, P.Hanas, Yu.2016-06-142016-06-142012Kosobutskyy P. Application of envelope function method for multibeam interference extremums to the ellipsometry electromagnetic waves by single-layered coatings / P. Kosobutskyy, Yu. Hanas // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2012. – № 747 : Комп'ютерні системи проектування. Теорія і практика. – С. 83–86. – Bibliography: 5 titles.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/33255The physical principles of application of the envelope function for multibeam interference spectra extremums to the ellipsometry of light reflection for plane wave incidence on transparent and absorptive monolayered structures were for the first time established. Вперше визначено фізичні принципи застосування обвідної функції до екстремумів спектрів багатопроменевої інтерференції в еліпсометрії відбиття світла на площину падіння хвилі на прозорі й абсорбуючі одношарові структури.enmethod for Fabry-Perotellipsometryelectromagnetic wavesметод Фабрі-Пероеліпсометріяелектромагнітні хвиліArticle