Водотовка, В. І.Репа, Ф. М.Юрчик, Г. В.2019-08-212019-08-212002-03-262002-03-26Водотовка В. І. Теплофізична оптоволоконна вимірювальна система / В. І. Водотовка, Ф. М. Репа, Г. В. Юрчик // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 454 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — С. 63–71.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/45257Розглянуто принцип побудови вимірювальної системи нерівномірності мікрохвильового електромагнітного поля (ЕМП), інваріантної до прогресуючих похибок первинних перетворювачів та стійкої до неінформативного впливу потужного мікрохвильового ЕМП.This paper deal with the principle of construction measuring unevenness system electromagnetic field (EMF), which is invariant progressing errors of primary convertors and steady to uninformative influence power EMF.63-71ukТеплофізична оптоволоконна вимірювальна системаArticle© Національний університет “Львівська політехніка”, 2002© Водотовка B. I., Репа Ф. М., Юрчик Г. В., 20029621.317.1Vodotovka V. I. Teplofizychna optovolokonna vymiriuvalna systema / V. I. Vodotovka, F. M. Repa, H. V. Yurchyk // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2002. — No 454 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — P. 63–71.