Бойко, В. Т.2010-06-102010-06-102010Бойко В. Т. Моделювання тетраедричних дефектних станів в стеклах As-S / В. Т. Бойко // Тринадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету «Львівська політехніка» з проблем електроніки : тези доповідей, 13–15 квітня 2010 року / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2010. – С. 9. – Бібліографія: 2 назви.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/4561uaкатіонаніонкластербазисTechnical Report