Мельник, В. А.Дудикевич, В. Б.2015-12-232015-12-232003Мельник В. А. Тестування генераторів ядер комп'ютерних пристроїв / В. А. Мельник, В. Б. Дудикевич // Вісник Національного університету «Львівська політехніка». – 2003. – № 475 : Автоматика, вимірювання та керування. – С. 123–128. – Бібліографія: 6 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/30871Запропоновано такі методи тестування генераторів ядер комп’ютерних пристроїв: евристичний, метод тестування усіх генерованих ядер комп’ютерних пристроїв та метод тестування вибраних ядер комп’ютерних пристроїв. Запропоновано структуру системи тестування генераторів ядер комп’ютерних пристроїв. Three methods of the IP cores generators testing are proposed. Those are: heuristic method, method of testing of all generated IP cores and method of testing of selected IP cores. The structure of the IP cores generator test bench is proposed.uaArticle