Яремчук, І. Я.Фітьо, В. М.Бобицький, Я. В.2010-02-242010-02-242009Яремчук І. Я. Модель інфрачервоних тонкоплівкових фільтрів на основі інтерференційного дзеркала / І. Я. Яремчук, В. М. Фітьо, Я. В. Бобицький // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2009. – № 646 : Електроніка. – С. 218-224. – Бібліографія: 14 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/2614Запропоновано нову структуру інфрачервоних смугових інтерференційних фільтрів та наведено алгоритм їх аналізу. Аналітично отримані співвідношення, які пов'язують показники заломлення усіх шарів у фільтрах типу “шар з високим показником заломлення - інтерференційне дзеркало – шар з високим показником заломлення”. За допомогою отриманих залежностей визначено такі параметри, як товщина та показник заломлення шарів з високим показником заломлення, що обмежують інтерференційне дзеркало. Design the new structure of interference band-pass infrared filter and new algorithm analysis is proposed.The analytic expressions for the analysis structure “layer with the high refractive іndex – interference mirror – layer with the high refractive index” are obtained. The refractive indices optimal and thicknesses of individual layers that limited interference mirror are obtained.uaМодель інфрачервоних тонкоплівкових фільтрів на основі інтерференційного дзеркалаModel of infrared thin-film filters on basis of the interference mirrorsArticle