Чекайло, М. В.Ільчук, Г. А.Українець, Н. А.Венгрин, Б. Я.Українець, В. О.2010-06-102010-06-102010Електропровідність і діелектрична проникність монокристалічного аргеродиту Ag8SnSe6 / М. В. Чекайло, Г. А. Ільчук, Н. А. Українець, Б. Я. Венгрин, В. О. Українець // Тринадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету «Львівська політехніка» з проблем електроніки : тези доповідей, 13–15 квітня 2010 року / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2010. – С. 66.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/4637uaспектроскопіяаргіродитБріджмен-СтокбаргердіапазонTechnical Report