Кость, Я. П.Андрущак, А. С.Мицик, Б. Г.2014-03-242014-03-242010Кость Я. П. Статична фотопружність тетрагональних кристалів за різницею ходу / Я. П. Кость, А. С. Андрущак, Б. Г. Мисик // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2010. – № 681 : Електроніка. – С. 118–126. – Бібліографія: 12 назв.https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/24067Для кристалів, що належать до класів симетрії 4, 4 , 4/m, встановлено співвідношення, які описують п’єзооптичний ефект за різницею ходу. Проведено аналіз цих співвідношень і доведено, що на основі п’єзооптичних коефіцієнтів різниці ходу і кількох інтерферометричних вимірювань можна знайти усі абсолютні п’єзооптичні коефіцієнти з меншими похибками, ніж тільки інтерферометричними методами. Relations that describe piezo-optic effect of retardation for crystals with symmetry classes 4, 4 , 4/m were determined. Analysis of these relations was done and we proved that using piezo-optic coefficients of retardation and few interferometric measurements it is possible to acquire all absolute piezo-optic coefficients with smaller errors than with interferometric methods only.uaстатична фотопружністьтетрагональні кристалиінтерферометріяstatic photoelasticitytetragonal crystalsinterferometryArticle