(Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2001-03-27) Мандзій, Б. А.; Бенч, А. Я.; Васильцов, І. В.; Національний університет "Львівська політехніка"; Тернопільська академія народного господарства
Розглянуто використання нової резиетивно-індуктивної моделі внутрішніх
завад у кристалах інтегральних схем для побудови моделі збою логічного
елемента. Досліджено вплив електричних параметрів логічного елемента,
конструктивно-технологічних параметрів мікросхем та температури
навколишнього середовища на ймовірність збою при перемиканні логічного
елемента.
