Browsing by Author "Gotra, Zenon"

Now showing 1 - 3 of 3

Potentiality of LTCC for sensor applications
(Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2001) Gotra, Zenon; Kalita, Wlodzinierz; Pietrikova, Alena; Slosarčik, Stanislav
Технологія виготовлення кераміки, відпаленої при низькій температурі (НТК), дозволяє реалізувати різноманітні структури для їх застосування в сенсорах. Приклади сенсорів, які виготовлені на кафедрі гібридної мікроелектроніки факультету електроніки і інформатики Технічного Університету в Кошице, демонструють високу якість і можливість застосування НТК в різноманітних товстоплівкових сенсорах. Сенсори для іншого використання можуть бути реалізовані на основі спеціальних НТК багатошарових структур. Potential of Low Temperature Cofired Ceramic (LTCC) multilayer technology allows to realize different structures for sensor applications. Examples of sensors realized at the Department of Hybrid Microelectronics Faculty of Electrical Engi¬neering and Informatics Technical University in Kosice have shown the quality of being potential or possibility of developing of LTCC for wide field of thick film sensor applications. Other sensor applications were realized on special shaped body based on LTCC multilayer.
The stability of the two-channel distributed-parameters with the loss control system
(Видавництво Державного університету “Львівська політехніка”, 2000) Dacka, Czeslaw; Gotra, Zenon; Wojcik, Waldemar
In this paper, we demonstrate the analysis of the stability of the two-channel control systems containing the optical fibre links as a through-coupling. The analysis of the stability of systems the indicial equation of which can be reduced to the form where its roots are located in the defined sector of the left half plane of the complex variables was conducted on the basis of the method of the plane of parameters. Приведено аналіз стабільності двоканальних керуючих систем, які містять волоконно-оптичні ланки в якості наскрізних зв’язків. На основі методу матриці параметрів проведено аналіз стабільності систем визначальне рівняння яких може бути зменшена до форми в якій його корені розміщені в певному місці лівої половини площини комплексних змінних.
Thick film structure resistor on dielectric
(Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2001) Gotra, Zenon; Jakubowska, Malgorzata; Szczepanski, Zbiegnew
Розглянуто нові товстоплівкові матеріали для структурного резистора на діелектрику і описано властивості такої структури. Досліджено стабільність та п’єзоелектричні властивості резистора на діелектрику. The new set of thick film materials for a structure resistor on dielectric and the properties of the of this structure are presented in this paper. The properties of resistor placed on dielectric such as stability, piezoresistive properties as well as microstructure was investigated.