Browsing by Author "Melnyk, G. M."

Now showing 1 - 1 of 1

Застосування методу лінійної регресії для аналізу кількісних характеристик цитологічних зображень
(Видавництво Львівської політехніки, 2021-10-10) Березький, О. М.; Піцун, О. Й.; Мельник, Г. М.; Дацко, Т. В.; Berezsky, O. M.; Pitsun, O. Yo.; Melnyk, G. M.; Datsko, T. V.; Національний університет “Львівська політехніка”; Західноукраїнський національний університет; Тернопільський національний медичний університет; Lviv Polytechnic National University; West Ukrainian National University; Ternopil National Medical University
Проаналізовано патологічні стани молочної залози на підставі дослідження цитологічних зображень. Цитологічні зображення – це окремий клас біомедичних зображень і використовуються для діагностування онкологічних захворювань. Для діагностування передракових і ракових станів та тактики лікування лікарі-діагности використовують цитологічні, гістологічні та імуногістохімічні зображення. Для автоматизації процесу діагностування в онкології використовують системи автоматизованої мікроскопії. У системах автоматизованої мікроскопії використовують алгоритми комп’ютерного зору. Останнім часом для класифікації зображень використовують алгоритми машинного навчання Опрацювання мікроскопічних зображень є складним і трудомістким процесом, оскільки зображення характеризуються високим рівнем шуму та відсутністю чітких контурів ядер клітин. Для обчислення кількісних характеристик ядер клітин цитологічних зображень розроблено метод обчислення кількісних характеристик ядер клітин на підставі алгоритмів фільтрації зображень та їх автоматичної сегментації. Для сегментації ядер клітин розроблено архітектуру згорткової нейронної мережі типу U-Net. У цій статті розроблено метод опрацювання цитологічних зображень. Метод складається з шести етапів. На першому етапі відбувається завантаження зображення у пам’ять комп’ютера, на другому – попереднє оброблення зображень. На третьому етапі здійснюється автоматична сегментація зображень на підставі згорткової нейронної мережі типу U-Net. На четвертому етапі виконується обчислення кількісних характеристик ядер клітин. На п’ятому етапі кількісні характеристик ядер клітин зберігаються в базі даних. На шостому етапі застосовують алгоритми лінійної регресії для отримання кількісних характеристик ядер клітин. Сьогодні лінійна регресія є одним із поширених підходів машинного навчання до аналізу даних. Здійснено порівняльний аналіз застосування кількісних характеристик ядер клітин на підставі лінійної регресії. Наукова новизна роботи полягає у розробленні методу обчислення кількісних характеристик ядер клітин, який містить етапи фільтрації зображень та автоматичної сегментації на підставі використання нейронної мережі типу U-Net. Практичне значення роботи – програмна реалізація модулів попереднього оброблення цитологічного зображення та лінійної регресії. Досліджено, що у сукупності параметрів “площа, довжина головної осі” в 1,4 разу менша похибка RMSE порівняно із сукупністю “площа, периметр”.