Browsing by Author "Яремчук, І. Я."
Now showing 1 - 15 of 15
- Results Per Page
- Sort Options
Item Детальний аналіз елемента призмового сенсора, що працює на явищі поверхневого плазмонного резонансу(Видавництво Львівської політехніки, 2017-03-28) Яремчук, І. Я.; Петровська, Г. А.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.; Yaremchuk, I. Ya.; Petrovska, H. A.; Fitio, V. M.; Bobitski, Ya. V.; Національний університет “Львівська політехніка”; Lviv Polytechnic National UniversityВиконано числовий аналіз оптичних характеристик елемента призмового сенсора, що працює на явищі поверхневого плазмонного резонансу, залежно від його геометричних параметрів, джерела зовнішнього опромінення та показника заломлення навколишнього середовища. Отримано оптимальні геометричні параметри сенсорного елемента для досягнення максимальної чутливості сенсора. Виготовлено та досліджено макет сенсорного елемента. Між експериментальними та теоретичними результатами добра кореляція.Item Модель інфрачервоних тонкоплівкових фільтрів на основі інтерференційного дзеркала(Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2009) Яремчук, І. Я.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.Запропоновано нову структуру інфрачервоних смугових інтерференційних фільтрів та наведено алгоритм їх аналізу. Аналітично отримані співвідношення, які пов'язують показники заломлення усіх шарів у фільтрах типу “шар з високим показником заломлення - інтерференційне дзеркало – шар з високим показником заломлення”. За допомогою отриманих залежностей визначено такі параметри, як товщина та показник заломлення шарів з високим показником заломлення, що обмежують інтерференційне дзеркало. Design the new structure of interference band-pass infrared filter and new algorithm analysis is proposed.The analytic expressions for the analysis structure “layer with the high refractive іndex – interference mirror – layer with the high refractive index” are obtained. The refractive indices optimal and thicknesses of individual layers that limited interference mirror are obtained.Item Модель інфрачервоного тонкоплівкового фільтра на основі інтерференційного дзеркала(Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2009) Яремчук, І. Я.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.Item Моделювання плазмонних властивостей нанокомпозитних матеріалів на основі алмазоподібної вуглецевої плівки та наночастинок срібла(Видавництво Львівської політехніки, 2016) Яремчук, І. Я.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.Розраховано оптичні константи алмазоподібної вуглецевої плівки, з диспергованими в неї наночастинками срібла різної форми, за допомогою ефективної теорії Максвелла–Гарнетта. Здійснено моделювання оптичних характеристик нанокомпозитного матеріалу залежно від розміру і форми включень та матеріалу матриці. Optical characteristics of nanocomposite materials have been modeled depends on materials of the nanoparticles and the matrix, the size and shape of nanoparticles. The optical constants of diamond-like carbon films doped with nanoparticles of silver are considered within the framework of the effective theory of Maxwell–Garnett. It is shown that the concentration, size, shape of nanoparticles and the interaction between them affect the value of the complex effective refractive index of the nanocomposite and are crucial for provision of maximum absorption peak (plasmon peak) and the width of the absorption spectrum. The modeling of the optical properties of the diamond-like carbon film doped by silver nanoparticles with spheroidal shape was provided. In this case the plasmon peaks are shifted to longer wavelengths and broadened. In addition, additionale absorption peaks appear. It is demonstrate that renormalized Maxwell–Garnett effective theory, which includes size effect and near field interaction between nanoparticles, can be successfully applied to describe the optical properties of silver diamond-like carbon nanocomposite films with the high concentration of Ag nanoparticles. The obtained results suggest as well that a random mixture consisting of a diamond-like carbon film with embedded isolated silver inclusions is promising material for the fabrication of tunable nanocomposites that could used in different optical systems employing surface plasmon resonance.Item Оптимізація структурних параметрів нанооболонки в умовах плазмонного резонансу для біотехнологій(Видавництво Львівської політехніки, 2012) Яремчук, І. Я.; Бариляк, А. Я.; Атаманюк, Н. В.; Бобицький, Я. В.Item Поверхневий плазмонний резонанс в срібних наночастинках: вплив підкладки(Видавництво Львівської політехніки, 2024-05-23) Яремчук, І. Я.; Булавінець, Т. О.; Національний університет “Львівська політехніка”Item Придушення побічних максимумів коефіцієнта пропускання вузькосмугових інтерференційних фільтрів(Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2008) Яремчук, І. Я.; Петровська, Г. А.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.Запропоновано спосіб придушення побічних максимумів коефіцієнта пропускання вузькосмугових фільтрів без використання відсічних фільтрів. Спосіб полягає у тому, що на базову багатошарову структуру напилюють додатковий фільтр, основна смуга пропускання якого збігається зі смугою пропускання базового фільтра, а бічні смуги пропускання є зміщеними. Використана структура базового вузькосмугового фільтра, в якій підкладка одночасно виконує роль роздільного шару. Під час використання запропонованого методу кінцева структура інтерференційного фільтра має вигляд ВН 500В НВ Н (ВН)3 4В (НВ)3. Оптимізація структури дала змогу не лише придушити бічні смуги пропускання, але й отримати спектр пропускання без істотних втрат поглинання для робочої довжини хвилі. The method of sidebands suppression is proposed in a narrowband filter without the use of longwave and shortwave filters. A method consists in that the additional filter of simple construction is deposited on a base narrowband filter. A basic transmission band this filter is on a working wavelength base filter, and sidebands are displaced. The base interference narrowband filter is structure in which substrate is dividing layer. At the use of the offered method the final structure of interference filter will has the form HL 500H LH L (HL)3 4H (LH)3. Optimization of structure allowed not only suppressed of transmissions sidebands but also gets the transmissions spectrum without significant losses on absorption on working wavelength.Item Підсилення електромагнітного поля періодичними структурами для застосування у раманівській спектроскопії(Видавництво Львівської політехніки, 2017-03-28) Петровська, Г. А.; Яремчук, І. Я.; Мурвай, І. М.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.; Petrovska, H. A.; Yaremchuk, I. Ya.; Murvai, I. M.; Fitio, V. M.; Bobitski, Ya. V.; Національний університет “Львівська політехніка”; Lviv Polytechnic National UniversityДосліджено періодичні структури на основі прямокутних дифракційних металевих (срібло) ґраток на діелектричній (полікарбонат) та металевій (срібло) підкладках для їх застосування як SERS-підкладок. Оптимізовано геометричні параметри ґраток для різних довжин хвиль збуджуючого випромінювання. Для оптимізованих структур з заданими параметрами і на різних довжинах хвилі збудження розраховано розподіл концентрації електромагнітного поля та коефіцієнт підсилення методом скінченних елементів.Item Резонанс поверхневих плазмонів та хвилеводних мод у призових структурах(Видавництво Львівської політехніки, 2010) Фітьо, В. М.; Яремчук, І. Я.; Ромах, В. В.; Бобицький, Я. В.Виконано теоретичне дослідження призмових структур двох типів, одна з яких має у своєму складі скляну призму, тонкий металевий шар, який нанесений на призму, у іншому типі призмової структури на металеву плівку додатково нанесений діелектричний шар. У разі ретельно підібраних параметрів структури коефіцієнт відбивання від металевого шару у призмі дорівнює нулю. Встановлено, що перша структура має найвищу чутливість кута мінімального відбивання, а у другій структурі спостерігається найвища чутливість коефіцієнта відбивання до зміни показника заломлення досліджуваної рідини. Theoretical investigation of prismatic structures of two types is conducted. The one prismatic structure has in the composition a glass prism, thin metallic layer that deposited on a prism. The second prismatic structure includes additional dielectric layer. The reflectance from the metallic layer in a prism is zero at carefully selected parameters of structure. It is shown that the first structure has the greatest sensitiveness of angle of minimum reflectance, whereas the second one has got the greatest sensitiveness of reflectance to the change of the refractive index of the probed liquid.Item Синтез та фотодинамічні властивості колоїдних розчинів срібла(Видавництво Львівської політехніки, 2017-03-28) Булавінець, Т.; Яремчук, І. Я.; Бобицький, Я. В.; Bulavinets, T.; Yaremchuk, I.; Bobitski, Ya.; Національний університет “Львівська політехніка”; Lviv Polytechnic National UniversityНаведено результати дослідження впливу електромагнітного випромінювання на зміну геометричної форми сферичних наночастинок срібла, отриманих методом фотостимульованого відновлення іонів срібла із сольового розчину (AgNO3). Показано, що використання світлових потоків є ефективним способом модифікації геометричних параметрів отриманих наночастинок завдяки їхній властивості поглинати випроміню- вання певної довжини хвилі. Це дає змогу зміщувати робочий діапазон довжин хвиль до довгохвильовішої області спектра.Item Спектральні характеристики багатошарових структур на основі трикомпонентних блоків(Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2006) Яремчук, І. Я.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.Розраховано спектральні характеристики багатошарових діелектричних інтер- ференційних структур, створених багатократним повторенням симетричного трикомпонентного періоду і структури типу діелектрик – тонка плівка металу – діелектрик. Частотні залежності коефіцієнтів пропускання і відбивання цих структур розраховано за допомогою матричного методу. Показано, що кількість періодів у структурі визначає спектральне розміщення смуг пропускання і відбивання, а зміна товщини окремих шарів дає змогу керувати піками цих смуг для певних довжин хвиль. The calculation of spectral characteristics of multilayer dielectrics interference structures produced by multiple repeating of symmetric tree-component period and the types of dielectric – thin film metal – dielectric systems, was conducted. The frequency responses of transmission and reflection of these systems using matrix method were calculated. It is showed that number of periods of structure determines spectral position of transmission and reflection bands and modification of thickness of individual layers allows us to lead peaks of such bands at certain wavelength.Item Спектральні характеристики наноструктур типу ядро–оболонка в умовах плазмонного резонансу(Видавництво Львівської політехніки, 2018-02-18) Булавінець, Т. О.; Яремчук, І. Я.; Бобицький, Я. В.; Bulavinets, T.; Yaremchuk, I.; Bobitski, Ya.; Національний університет “Львівська політехніка”; Lviv Polytechnic National UniversityВиконано моделювання спектральних характеристик наноструктур типу ядро– оболонка, а саме срібло–золото, срібло–мідь, срібло–діоксид титану та діоксид титану– срібло в умовах локалізованого поверхневого плазмонного резонансу. Показано, що зміною товщини оболонки на металевому чи напівпровідниковому ядрі можна керувати спектральним положенням піка поверхневого плазмонного поглинання у видимій області спектра, та оцінено вплив геометричної деформації наноструктур на їхні оптичні характеристики.Item Спектральні характеристики наноструктур типу ядро-оболонка в умовах плазмонного резонансу(Видавництво Львівської політехніки, 2020-02-20) Булавінець, Т. О.; Яремчук, І. Я.; Бобицький, Я. В.; Bulavinets, T. O.; Yaremchuk, I. Ya.; Bobitski, Ya. V.; Національний університет “Львівська політехніка”; Lviv Polytechnic National UniversityЗдійснено моделювання спектральних характеристик наноструктур типу ядро – оболонка, а саме срібло – золото, срібло – мідь, срібло – діоксид титану та діоксид титану – срібло в умовах локалізованого поверхневого плазмонного резонансу. Показано, що зміною товщини оболонки на металевому чи напівпровідниковому ядрі можна керувати спектральним положенням піка поверхневого плазмонного поглинання у видимій області спектра та оцінено вплив геометричної деформації наноструктур на їхні оптичні характеристики.Item Технологічні аспекти синтезу багатошарових тонкоплівкових структур(Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2007) Яремчук, І. Я.Проаналізовано вплив похибки напилення шарів при одержанні багатошарових діелектричних та металодіелектричних систем на їхні оптичні характеристики. Проаналізовано найчутливіші шари, в яких навіть мінімальне відхилення від заданої товщини призводить до недопустимого спотворення спектральної кривої. Досліджено залежність півширини смуги пропускання від товщини діелектричних шарів з високим показ- ником заломлення. The analysis of influencing of error of deposition of layers at the receipt of multilayer dielectric and metal-dielectric systems on their optical characteristics was conducted. The most sensitive layers in what even minimum deviation from the control thickness results to impermissible deformation of spectral curve, was analyzed. It was researched dependence half-width of band of transmission from the thickness of dielectric layers with the high index of refraction.Item Функціонально інтегровані графен-сенсори на основі поєднання магнітних та теплових методів(Видавництво Львівської політехніки, 2019-02-26) Петровська, Г. А.; Яремчук, І. Я.; Малинич, С. З.; Бобицький, Я. В.; Petrovska, H.; Yaremchuk, I.; Malynych, S.; Bobitski, Ya.; Національний університет “Львівська політехніка”; Lviv Polytechnic National UniversityПодано оптимізовану технологію виготовлення методом фотостимульованого травлення напівпровідників поверхневої дифракційної решітки. Це дає змогу отримати решітки з контрольованим періодом та глибиною поверхневої модуляції. Проведено математичне моделювання синусоїдальних рельєфних решіток на поверхні GaAs. Крім того, оптимізовано їх параметри. Обрано оптимальні періоди решіток. Отримано залежності ефективності дифракції від поверхні модуляції рельєфу для різних довжин хвиль. Встановлено, що максимальна ефективність решітки спостерігається при відношенні глибини поверхні рельєфу до періоду, який приблизно дорівнює 1:10. Для запису рельєфних решіток використовували лазер Nd: YAG на другій гармоніці (532 нм) з максимальною потужністю 100 мВт. Для вивчення рельєфу решіток був використаний атомно-силовий мікроскоп. Показано, що легування GaAs телуром призводить до сильного розвитку морфології поверхні та більшої глибини модуляції поверхні напівпровідника.