Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET'2010). – 2010 р.

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/4065

У книзі зібрано матеріали конференції, присвяченої науково-технічним проблемам у галузі радіоелектроніки,телекомунікацій та комп’ютерної інженерії. Видання призначене для науковців, інженерів та аспірантів.

Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали X Міжнародної конференції TCSET'2010, присвяченої 165-й річниці Національного університету "Львівська політехніка", 23-27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – 380 с.

Browse

Has files: YesSubject: search.filters.subject.clustering

Search Results

Now showing 1 - 3 of 3
  • Thumbnail Image
    Item
    Bee colony optimization for clustering
    (Видавництво Львівської політехніки, 2010) Oleynik, Alexey; Subbotin, Sergey; Oleynik, Andrey
    The method of clustering based on the bee colony optimization is proposed. The main advantage of the developed method is the estimation of the number of cluster in a given dataset where no previous knowledge of the number of clusters is available.
  • Thumbnail Image
    Item
    Web content-based image retrieval system based on 4-D structural features
    (Видавництво Львівської політехніки, 2010) Tushnytskyy, Ruslan; Perevalova, Inna; Pavlyuk, Galyna
    An approach to search images from a databases by structural features got from the three stages clustering algorithm is considered. Software packages architecture for visual pattern processing is presented.
  • Thumbnail Image
    Item
    Pattern keys investigation for content-based image retrieval system
    (Видавництво Львівської політехніки, 2010) Melnyk, Roman; Tushnytskyy, Ruslan
    An approach to search images from a databases by structural features got from the three stages clustering algorithm is considered. Image key forming investigation for visual pattern processing is presented.