Автоматика / Automatiсs
Permanent URI for this communityhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/50665
Browse
1 results
Search Results
Item Багатозначні міри опору для автоматизованого метрологічного контролю складних систем(Видавництво Львівської політехніки, 2011) Яцук, Ю. В.; Янович, Р. Р.; Яцук, В. О.The many-valued resistance measure for automatic metrological checking complication system is described in this paper. That measure is built on resistance imitator of Ohm law basis. The high resolution, accuracy, distance transfer resistance possibilities is benefits of this resistance measure.