Вісники та науково-технічні збірники, журнали

Permanent URI for this communityhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/12

Browse

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Комбінований метод корекції нелінійності дводіапазонних АЦП
    (Видавництво Львівської політехніки, 2014) Кочан, Р. В.; Кочан, О. В.; Клим, Г. І.; Гоц, Н. Є.
    Розроблено метод формування тестових точок для визначення та корекції інтегральної нелінійності багаторозрядних АЦП, що використовують багаторезисторний подільник напруги з усередненням спадів напруги на всіх резисторах. Досліджено вплив похибки опору резисторів багаторезисторного подільника та випадкової похибки АЦП на невиключену похибку корекції інтегральної нелінійності. There is developed method of testing points generation for identification and correction of integral nonlinearity of high performance ADC. The developed method is based on averaging all voltages of multi-resistors voltage divider. It is investigated influence of resistors’ error and random error of ADC on residual error of integral nonlinearity correction for method based on multi-resistor divider.
  • Thumbnail Image
    Item
    Метод корекції нелінійності АЦП на базі джерела підвищеної напруги
    (Видавництво Львівської політехніки, 2014) Кочан, Р. В.; Кочан, О. В.; Клим, Г. І.; Гоц, Н. Є.
    Розроблено метод формування тестових точок для визначення та корекції інтегральної нелінійності АЦП, який використовує багаторезисторний подільник напруги з усередненням спадів напруги на резисторах, що живиться напругою, значно вищою, ніж діапазон тестованого АЦП. Досліджено вплив похибки опору резисторів багаторезисторного подільника та випадкової похибки АЦП на невиключену похибку корекції інтегральної нелінійності. There is developed method of testing points generation for identification and correction of integral nonlinearity of high performance ADC. The developed method is based on averaging all voltages of multi-resistors voltage divider, which is powered by reference voltage source with output voltage higher than range of tested ADC. It is investigated influence of resistors’ error and random error of ADC on residual error of integral nonlinearity correction for proposed method.