(Publishing House of Lviv Polytechnic National University, 2012) Druzhynin, Anatoliy; Khoverko, Yuriy; Vuitsyk, Andrii; Ostrovskyi, Ihor
Influence of proton irradiation on the properties of Si1-xGex whiskers as strain sensors is studied in this work. On the basis of secondary signal processing the possibility of using such whiskers as a strain sensor’s sensitive element resistant to proton radiation is shown. В даній роботі проаналізовано вплив протонного випромінювання на ниткоподібні кристали Si1-xGex які використовуються в сенсорах механічних величин та зроблено висновки про стійкість таких сенсорів до дії протонного випромінювання. Також запропоновано інтелектуальну інтерфейсну плату для обробки сигналу від вимірювального перетворювача.
