Вісники та науково-технічні збірники, журнали

Permanent URI for this communityhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/12

Browse

Search Results

Now showing 1 - 7 of 7
  • Thumbnail Image
    Item
    Комбінований метод корекції нелінійності дводіапазонних АЦП
    (Видавництво Львівської політехніки, 2014) Кочан, Р. В.; Кочан, О. В.; Клим, Г. І.; Гоц, Н. Є.
    Розроблено метод формування тестових точок для визначення та корекції інтегральної нелінійності багаторозрядних АЦП, що використовують багаторезисторний подільник напруги з усередненням спадів напруги на всіх резисторах. Досліджено вплив похибки опору резисторів багаторезисторного подільника та випадкової похибки АЦП на невиключену похибку корекції інтегральної нелінійності. There is developed method of testing points generation for identification and correction of integral nonlinearity of high performance ADC. The developed method is based on averaging all voltages of multi-resistors voltage divider. It is investigated influence of resistors’ error and random error of ADC on residual error of integral nonlinearity correction for method based on multi-resistor divider.
  • Thumbnail Image
    Item
    Обчислювач обернено пропорційної функції на число-імпульсному квадраторі
    (Видавництво Львівської політехніки, 2014) Мороз, Л. В.; Лужецька, Н. М.; Горпенюк, А. Я.
    Розроблено метод формування тестових точок для визначення та корекції інтегральної нелінійності багаторозрядних АЦП, що використовують багаторезисторний подільник напруги з усередненням спадів напруги на всіх резисторах. Досліджено вплив похибки опору резисторів багаторезисторного подільника та випадкової похибки АЦП на невиключену похибку корекції інтегральної нелінійності. There is developed method of testing points generation for identification and correction of integral nonlinearity of high performance ADC. The developed method is based on averaging all voltages of multi-resistors voltage divider. It is investigated influence of resistors’ error and random error of ADC on residual error of integral nonlinearity correction for method based on multi-resistor divider.
  • Thumbnail Image
    Item
    Метод корекції нелінійності АЦП на базі джерела підвищеної напруги
    (Видавництво Львівської політехніки, 2014) Кочан, Р. В.; Кочан, О. В.; Клим, Г. І.; Гоц, Н. Є.
    Розроблено метод формування тестових точок для визначення та корекції інтегральної нелінійності АЦП, який використовує багаторезисторний подільник напруги з усередненням спадів напруги на резисторах, що живиться напругою, значно вищою, ніж діапазон тестованого АЦП. Досліджено вплив похибки опору резисторів багаторезисторного подільника та випадкової похибки АЦП на невиключену похибку корекції інтегральної нелінійності. There is developed method of testing points generation for identification and correction of integral nonlinearity of high performance ADC. The developed method is based on averaging all voltages of multi-resistors voltage divider, which is powered by reference voltage source with output voltage higher than range of tested ADC. It is investigated influence of resistors’ error and random error of ADC on residual error of integral nonlinearity correction for proposed method.
  • Thumbnail Image
    Item
    Метод корегування нелінійності дводіапазонних АЦП з безпосереднім вимірюванням спадів напруги на резисторах багаторезисторного подільника напруги
    (Видавництво Львівської політехніки, 2013) Кочан, Р. В.; Кочан, О. В.; Клим, Г. І.
    Розроблено метод формування тестових точок для визначення та коригування інтегральної нелінійності багаторозрядних АЦП, що використовують багаторезисторний подільник напруги з усередненням спадів напруги на усіх резисторах. Проведено дослідження впливу похибки опору резисторів багаторезистивного подільника та випад- кової похибки АЦП на невиключену похибку коригування інтегральної нелінійності. There is developed method of testing points generation for identification and correction of integral nonlinearity of high performance ADC. The developed method is based on averaging all voltages of multi-resistors voltage divider. It is investigated influence of resistors’ error and random error of ADC on residual error of integral nonlinearity correction for method based on multi-resistor divider.
  • Thumbnail Image
    Item
    Дослідження інтегральної нелінійності однобітного сигма-дельта модулятора третього порядку
    (Видавництво Львівської політехніки, 2013) Кочан, Р.; Нечай, О.
    Розроблено імітаційну модель однобітного сигма-дельта модулятора третього порядку, що дає змогу дослідити вплив параметрів компонентів модулятора на функцію перетворення модулятора загалом. За допомогою розробленої моделі досліджено вплив нелінійності інтеграторів на нелінійність модуляторів третього порядку з різними параметрами. Отримані результати дають змогу оптимізувати параметри інтеграторів для мінімізації нелінійності функції перетворення сигма-дельта модуляторів третього порядку, а також цілеспрямовано вибирати коригувальну функцію при корекції нелінійної складової похибки аналого-цифрових перетворювачів на основі таких модуляторів. There is developed the simulation model of single bit third order sigma-delta modulator. This model provides investigation the influence of components’ parameters on whole modulator’s parameters. There was investigated the modulator’s nonlinearity dependence of integrators’ nonlinearity for single bit third order sigma-delta modulators with different parameters. The obtained results allow to make optimization of integrators’ parameters for minimization the nonlinearity of third order sigma-delta modulator and rationally select the correction function for correction the nonlinear error of analog to digital converters based on these modulators.
  • Thumbnail Image
    Item
    Дослідження інтегральної нелінійності сигма-дельта модулятора другого порядку
    (Видавництво Львівської політехніки, 2012) Кочан, Р. В.
    Досліджено вплив інтегральної нелінійності функції перетворення інтеграторів сигма-дельта модулятора другого порядку на інтегральну нелінійність функції перетворення модулятора загалом. За результатами досліджень визначено вигляд функції нелінійності модулятора та коефіцієнти впливу кожного інтегратора. There is investigated influence of integrators’ integral nonlinearity on integral nonlinearity of single bit second order sigma-delta modulator. The obtained results allow us to define the view of nonlinearity of modulator and the influence coefficients of all integrators.
  • Thumbnail Image
    Item
    Похибка методу корекції інтегральної нелінійності АЦП за допомогою багаторезистивного подільника
    (Видавництво Львівської політехніки, 2011) Кочан, Р. В.
    Досліджено вплив похибки опору резисторів багаторезистивного подільника та випадкової похибки АЦП на залишкову похибку корекції інтегральної нелінійності АЦП. Результати досліджень дали змоги визначити сферу доцільного застосування досліджуваного методу та сформулювати вимоги до методів визначення нелінійності функції перетворення з розширеною сферою доцільного застосування. There is investigated influence of resistors’ error and random error of ADC on residual error of integral nonlinearity correction for method based on multi-resistor divider. The obtained results allow us to outline the range of rational application of investigated method of error correction and to formulate the requirements to nonlinearity identification methods with extended application range.