Вісники та науково-технічні збірники, журнали
Permanent URI for this communityhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/12
Browse
2 results
Search Results
Item Алгоритми виходу з локальних екстремумів у задачах оптимізації розміщення елементів електронних схем(Видавництво Львівської політехніки, 2011) Базилевич, Р.; Курейчик, В.; Щерб’юк, І.Досліджено вплив зміни алгоритмів у задачах оптимізації розміщення елементів електронних схем для виходу з локальних екстремумів. Продемонстровано застосування стратегії ітераційної зміни алгоритму точкового сканування зі зсувом елементів та алгоритму з їх парним обміном. Експерименти виконано на тест-задачі Стейнберга. Показано, що така зміна дає змогу покращити результати оптимізації розміщення. The effect of changing algorithms to escape from local extrema for electronic circuit placement optimization is investigated. To iterative change two algorithms were used: scanning point with exchange of elements’ position and with elements’ shifting. Experiments were performed on the Steinberg test-case. Is shown that such change can improve the optimization results.Item Порівняння ефективності алгоритмів точкового сканування зі зсувом та точкового сканування з парним обміном для розміщенння елементів(Видавництво Львівської політехніки, 2010) Базилевич, Р. П.; Курейчик, В. М.; Щерб’юк, І. Ф.На основі тест-задачі Стейнберга виконано порівняльне дослідження результатів роботи алгоритму точкового сканування зі зсувом елементів та алгоритму точкового сканування з парним обміном. Efficiency of placement algorithm for electronic devices by scanning with parewise and elements’ shifting is investigated and compared. Experiments were performed at Steinberg test-case.