Моделi накопичення радiацiйних дефектiв в оксидних кристалах

No Thumbnail Available

Date

2004

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Національного університету "Львівська політехніка"

Abstract

У роботі розглянуто задачу опису кінетики накопичення радіаційних дефектів в кристалах складних оксидів. Проаналізовано моделі, які описуютьосновні процеси та явища, що мають місце при опроміненні кристала - зміну зарядового стану генетичних дефектів, обмеженість процесу перезарядки генетичних дефектів їх кількістю та процесом їх рекомбінації, утворення радіаційних дефектів зміщення та їх іонізацію, обмеженість процесу утворення радіаційних дефектів процесами рекомбінації, а також утворення комплексів аніонної і катіонної вакансій. The description problem of the radiation defects accumulation kinetics is considered. The analysis is carried out for models describing the basic processes and phenomena taking place at the crystal irradiation, namely the genetic defects recharging, the limitation of the genetic defects recharging by their quantity and recombination, the displacement defects formation and ionization of them, the limitation of the radiation defects formation and their ionization by the recombination processes as well as formation of complexes of anion and cation vacancies.

Description

Keywords

радіаційне дефектоутворення, оксидні кристали, radiation defects formation, oxide crystals

Citation

Моделi накопичення радiацiйних дефектiв в оксидних кристалах / С. Б. Убізський, О. А. Бурий, П. Потера, А. О. Матковський // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2004. – № 514 : Електроніка. – С. 23-32. - Бібліографія: 9 назв.