Методи розв’язання різноконтурних задач неруйнівного контролю якості провідних матеріалів

dc.contributor.authorОбшта, А. Ф.
dc.contributor.authorТарабань, Р. С.
dc.contributor.authorШувар, Б. А.
dc.date.accessioned2013-06-10T14:01:16Z
dc.date.available2013-06-10T14:01:16Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractThe article is devoted to the urgent questions of vortex-current control of the quality of conductive materials. A unified approach to the solving of theoretical issues of the scientific-technical problem of multiparametric defectometry has been elaborated. On the basis of the theory of solving multicircuit tasks through generalized potentials, methods of defining electrical parameters of the sensing device reaction on the basis of Maxwell equation have been developed. These methods can be used in calculating the non-linear multiparametric tasks of conductive materials vortex-current quality control.uk_UA
dc.identifier.citationОбшта А. Ф. Методи розв’язання різноконтурних задач неруйнівного контролю якості провідних матеріалів / А. Ф. Обшта, Р. С. Тарабань, Б. А. Шувар // Автоматика / Automatics – 2011 : матеріали XVIII Міжнародної конференції з автоматичного управління, 28–30 вересня 2011 року, Львів / Національна академія наук України [та інші]. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 367. – Бібліографія: 4 назви.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/19519
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectmeasuringuk_UA
dc.subjectvortex-current sensing devicesuk_UA
dc.subjectdefectsuk_UA
dc.subjectMaxwell equationsuk_UA
dc.subjectmulticircuit problemsuk_UA
dc.titleМетоди розв’язання різноконтурних задач неруйнівного контролю якості провідних матеріалівuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
207-Obshta-367.pdf
Size:
187.64 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.06 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: