Двофункційна багатоканальна система вимірювання деформації на основі ниткоподібних кристалів si1-xgex для кріогенних температур

dc.contributor.authorВуйцик, А. М.
dc.contributor.authorХоверко, Ю. М.
dc.contributor.authorДружинін, А. О.
dc.date.accessioned2010-06-10T12:35:46Z
dc.date.available2010-06-10T12:35:46Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationВуйцик А. М. Двофункційна багатоканальна система вимірювання деформації на основі ниткоподібних кристалів si1-xgex для кріогенних температур / А. М. Вуйцик, Ю. М. Ховерко, А. О. Дружинін // Тринадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету «Львівська політехніка» з проблем електроніки : тези доповідей, 13–15 квітня 2010 року / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2010. – С. 20.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/4610
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету "Львівська політехніка"uk_UA
dc.subjectсенсорuk_UA
dc.subjectсистемаuk_UA
dc.subjectдеформаціяuk_UA
dc.subjectтензорезисторuk_UA
dc.titleДвофункційна багатоканальна система вимірювання деформації на основі ниткоподібних кристалів si1-xgex для кріогенних температурuk_UA
dc.typeTechnical Reportuk_UA

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
16.pdf
Size:
90.72 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: