Characterisation and Electrical Properties of Silicon–Silicon Oxide Nanosystems

Simple item page
dc.citation.conferenceМіжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
dc.citation.epage105
dc.citation.journalTitleОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
dc.citation.spage105
dc.contributor.affiliationIvan Franko National University of Lviv, Lviv, Ukraine
dc.contributor.authorOlenych, I.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.coverage.temporal29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
dc.coverage.temporalMay 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
dc.date.accessioned2018-04-02T13:42:54Z
dc.date.available2018-04-02T13:42:54Z
dc.date.created2017-05-29
dc.date.issued2017-05-29
dc.format.extent105
dc.format.pages1
dc.identifier.citationOlenych I. Characterisation and Electrical Properties of Silicon–Silicon Oxide Nanosystems / I. Olenych // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 105. — (3 nanoparticles, nano-ceramics and nano-composites).
dc.identifier.citationenOlenych I. Characterisation and Electrical Properties of Silicon–Silicon Oxide Nanosystems / I. Olenych // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 105. — (3 nanoparticles, nano-ceramics and nano-composites).
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40220
dc.language.isoen
dc.relation.ispartofОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
dc.relation.ispartofOxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
dc.relation.referencesen[1] A. Dutta, S. Oda, Y. Fu, M. Willander, Electron transport in nanocrystalline Si based single electron transistors, Jpn. J. Appl. Phys. 39 (2000) 4647.
dc.relation.referencesen[2] K. Yano, T. Ishii, T. Hashimoto, T. Kobayashi, F. Murai, K. Seki, Room-temperature single-electron memory, IEEE Trans. Electron. Dev. 41 (1994) 1628.
dc.relation.referencesen[3] I.B. Olenych, O.I. Aksimentyeva, L.S. Monastyrskii, Yu.Yu. Horbenko, L.I. Yarytska, Sensory properties of hybrid composites based on poly(3,4-ethylenedioxythiophene) – porous silicon – carbon nanotubes, Nanoscale Research Letters 10 (2015) 187.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
dc.titleCharacterisation and Electrical Properties of Silicon–Silicon Oxide Nanosystems
dc.typeConference Abstract

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Olenych_I-Characterisation_and_Electrical_105.pdf
Size:
21.14 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Olenych_I-Characterisation_and_Electrical_105__COVER.png
Size:
1.06 MB
Format:
Portable Network Graphics
Download

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
2.89 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.