Багатозначні міри опору для автоматизованого метрологічного контролю складних систем

dc.contributor.authorЯцук, Ю. В.
dc.contributor.authorЯнович, Р. Р.
dc.contributor.authorЯцук, В. О.
dc.date.accessioned2013-06-10T13:03:14Z
dc.date.available2013-06-10T13:03:14Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractThe many-valued resistance measure for automatic metrological checking complication system is described in this paper. That measure is built on resistance imitator of Ohm law basis. The high resolution, accuracy, distance transfer resistance possibilities is benefits of this resistance measure.uk_UA
dc.identifier.citationЯцук Ю. В. Багатозначні міри опору для автоматизованого метрологічного контролю складних систем / Ю. В. Яцук, Р. Р. Янович, В. О. Яцук // Автоматика / Automatics – 2011 : матеріали XVIII Міжнародної конференції з автоматичного управління, 28–30 вересня 2011 року, Львів / Національна академія наук України [та інші]. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 228–229. – Бібліографія: 5 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/19495
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectcode-control resistance measureuk_UA
dc.subjectresistance imitatoruk_UA
dc.subjectfour terminal connectionuk_UA
dc.titleБагатозначні міри опору для автоматизованого метрологічного контролю складних системuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
124-Yatsuk-228-229.pdf
Size:
233.7 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.06 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: