How Computer Modelling Can AidMaterials Processing and Defect Driven Effects

Simple item page
dc.citation.conferenceМіжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
dc.citation.epage46
dc.citation.journalTitleОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
dc.citation.spage46
dc.contributor.affiliationPhysics Department, Federal University of Sergipe, São Cristóvão, 49100-000, SE, Brazil
dc.contributor.affiliationSchool of Chemical and Physical Sciences, Keele University, Keele, Staffordshire, ST55BG, UK
dc.contributor.authorValerio, M. E. G.
dc.contributor.authorJackson, R. A.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.coverage.temporal29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
dc.coverage.temporalMay 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
dc.date.accessioned2018-04-02T13:41:39Z
dc.date.available2018-04-02T13:41:39Z
dc.date.created2017-05-29
dc.date.issued2017-05-29
dc.format.extent46
dc.format.pages1
dc.identifier.citationValerio M. E. G. How Computer Modelling Can AidMaterials Processing and Defect Driven Effects / M. E. G. Valerio, R. A. Jackson // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 46. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
dc.identifier.citationenValerio M. E. G. How Computer Modelling Can AidMaterials Processing and Defect Driven Effects / M. E. G. Valerio, R. A. Jackson // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 46. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40156
dc.language.isoen
dc.relation.ispartofОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
dc.relation.ispartofOxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
dc.relation.referencesen[1] R.A. Jackson, M.E.G. Valerio, A new interatomic potential for the ferroelectric and paraelectric phases of LiNbO3, J. Phys. Condensed Matter 17 (2005) 837–843, doi:10.1088/0953-8984/17/6/005.
dc.relation.referencesen[2] R.M. Araujo, K. Lengyel, R.A. Jackson, L. Kovács, M.E.G. Valerio, A computational study of intrinsic and extrinsic defects in LiNbO3, J. Phys. Condensed Matter 19 (2007) 046211, doi:10.1088/0953-8984/19/4/046211.
dc.relation.referencesen[3] R.M. Araujo, M.E.G. Valerio, R.A. Jackson, Computer modelling of trivalent metal dopants in lithium niobate, J. Phys. Condensed Matter 20 (2008) 035201, doi:10.1088/0953-8984/20/03/035201.
dc.relation.referencesen[4] R.M. Araujo, M.E.G. Valerio, R.A. Jackson, Computer simulation of metal co-doping in lithium niobate, Proc. R. Soc. A 470 (2014) 20140406, http://dx.doi.org/10.1098/rspa.2014.0406.
dc.relation.referencesen[5] M.E.G. Valerio, R.A. Jackson, F. Bridges, EXAFS simulations in Zn-doped LiNbO3 based on defect calculations, IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering 1(69) (2017) 012003, doi:10.1088/1757-899X/169/1/012003.
dc.relation.referencesen[6] R.M. Araujo, M.E.G. Valerio, R.A. Jackson, M.V. dos S. Rezende, Intrinsic Defects in Strontium Aluminates studied via Computer Simulation Technique, J. Phys: Conf. Series 249 (2010) 012042,doi:10.1088/1742-6596/249/1/012042.
dc.relation.referencesen[7] M.V. dos S. Rezende, M.E.G. Valerio, R.A. Jackson, Computer modelling of the reduction of rare earth dopants in barium aluminate, J. Solid State Chemistry 184 (2011) 1903–1908, doi:10.1016/j.jssc.2011.05.053.
dc.relation.urihttp://dx.doi.org/10.1098/rspa.2014.0406
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
dc.titleHow Computer Modelling Can AidMaterials Processing and Defect Driven Effects
dc.typeConference Abstract

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Valerio_M_E_G-How_Computer_Modelling_Can_46.pdf
Size:
76.63 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Valerio_M_E_G-How_Computer_Modelling_Can_46__COVER.png
Size:
1.38 MB
Format:
Portable Network Graphics
Download

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
2.91 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.