Self-Shunted Josephson Junctions with Ultrathin Oxide Interlayers – Progress and Outlook

Simple item page
dc.citation.conferenceМіжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
dc.citation.epage203
dc.citation.journalTitleОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
dc.citation.spage203
dc.contributor.affiliationVasyl’ Stus Donetsk National University, 021021 Vinnytsia, Ukraine
dc.contributor.affiliationO.Galkin Donetsk Institute for Physics and Engineering, 03028 Kyiv, Ukraine
dc.contributor.affiliationNational Institute for Metrological Research, 10135 Turin, Italy
dc.contributor.authorBelogolovskii, M.
dc.contributor.authorZhitlukhina, E.
dc.contributor.authorLacquaniti, V.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.coverage.temporal29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
dc.coverage.temporalMay 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
dc.date.accessioned2018-04-02T13:40:39Z
dc.date.available2018-04-02T13:40:39Z
dc.date.created2017-05-29
dc.date.issued2017-05-29
dc.format.extent203
dc.format.pages1
dc.identifier.citationBelogolovskii M. Self-Shunted Josephson Junctions with Ultrathin Oxide Interlayers – Progress and Outlook / M. Belogolovskii, E. Zhitlukhina, V. Lacquaniti // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 203. — (6 magnetic materials, superconductors, multiferroics).
dc.identifier.citationenBelogolovskii M. Self-Shunted Josephson Junctions with Ultrathin Oxide Interlayers – Progress and Outlook / M. Belogolovskii, E. Zhitlukhina, V. Lacquaniti // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 203. — (6 magnetic materials, superconductors, multiferroics).
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40092
dc.language.isoen
dc.relation.ispartofОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
dc.relation.ispartofOxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
dc.titleSelf-Shunted Josephson Junctions with Ultrathin Oxide Interlayers – Progress and Outlook
dc.typeConference Abstract

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Belogolovskii_M-Self_Shunted_Josephson_203.pdf
Size:
24.82 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Belogolovskii_M-Self_Shunted_Josephson_203__COVER.png
Size:
1.41 MB
Format:
Portable Network Graphics
Download

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.92 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.